주요 사양
1. Magnification: SE image 10~60,000배
BSE image 10~30,000배
2. Observation mode: 기본 두가지 디텍터---Secondary Electron Image(SE), Backscattered Electron Image(BSE)
3. Accelerating voltage: SE--5kV, 10kV, 15kV(3steps), BSE--10kV,15kV(2steps)
4. Specimen Stage: Manual control (X: 35mm, Y: 35mm)
5. Max. specimen size: 70mm Diameter x 50mm Height
6. Evaluation Time : Approx 3 minutes
7. EDS analytical system is optional.
특징
1. 1,000x 에서 약 20,000x 의 배율에서 가장 합리적인 가격으로 고해상도 이미지를 얻을 수 있습니다.
2. 0.02um의 해상도와 깊은 심도(DOF)로 광학현미경으로 볼 수 없는 영역을 측정할 수 있습니다.
3. High Vacuum 과 Low Vacuum 을 SE와 BSE 디텍터 어떤모드에서도 선택하여 측정이 가능합니다.
4. 2차전자(SE)와 후방산란 전자(BSE)가 기본적으로 장착되어 매우 다양한 샘플을 측정이 가능합니다.
비전도성 재질의 샘플을 이온코팅없이 SE로 측정하기 어려울 경우, 저진공에 고전압의 BSE로 좋은 샘플의 표면
이미지를 보실 수 있습니다.
5. 약 3분의 매우 빠른 속도로 진공 시작부터 측정완료까지 가능 합니다.
6. 15kV, 10kV, 5kV 의 선택이 가능합니다.
7. 간편한 인터페이스로 누구나 쉽고 빠르게 배울 수 있습니다.
8. 쉽고 빠른 보고서 작성이 가능합니다.
9. 타사에 비하여 작업및 측정 분석 소프트웨어가 매우 쉽고 간편하다고 사용자들에게호평 받습니다.
10. 타사제품과 달리 아주 오랫동안 내구성을 가지고 사용 가능하다.
11. 필라멘트
* 계산서 발행 요청시 발행 가능합니다 . (카드 구입시 제외 )
* 무단 복재를 금합니다 .
